云纹干涉法测定1200℃单晶材料弹性模量及泊松比研究

• 作者: 吴琼 张宸宇 董爱民
• 来源期刊: 应用激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 云纹干涉 1200℃ 弹性模量 泊松比
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 页码范围: 434-439
• 页数: 6页
• 分类号: O348.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.14128/j.cnki.al.20163604.434

摘要

通常金属试件表面零厚度光栅在800～1 000℃下就发生氧化和低固溶点金属的溢出,导致试件表面的光栅被完全覆盖,无法继续测量.本文通过特殊的物理方法处理,使试件表面光栅重新显现,从而获得1 200℃下清晰的干涉条纹,成功测试该温度下单晶材料的弹性模量和泊松比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张宸宇		8	0	0.0	0.0
2	董爱民		12	11	1.0	3.0
3	吴琼		7	14	3.0	3.0