基于ARM和FPGA的双核电磁无损检测系统

• 作者: 刘丽辉 周卫红 田武刚 翁飞兵 谢瑞芳 陈棣湘
• 来源期刊: 中国测试
• 关键词: 无损检测 双核 多路数据采集 数据融合
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 测试仪器
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 字数: 1765字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11857/j.issn.1674-5124.2016.01.015

摘要

针对飞机发动机涡轮叶片缺陷检测难度大、效率低、严重制约航空装备保障的问题,设计一套基于ARM和FPGA的双核电磁无损检测系统.该系统采用FPGA结合A/D采样芯片完成64通道数据采集,并以基于android系统的ARM实现对各功能单元的控制.FPGA控制A/D采样芯片完成传感器阵列的高速数据采集并对其进行预处理,经UART接口送给ARM后,再由ARM完成信号特征提取和缺陷检测,并实现三维实时成像.测试结果表明:该系统对微裂纹的长度检测误差＜0.2 mm,成像速率达10帧/s,满足工业应用需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田武刚	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	17	75	5.0	7.0
2	陈棣湘	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	28	170	7.0	12.0
3	翁飞兵	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	5	13	2.0	3.0
4	谢瑞芳	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	3	5	2.0	2.0
5	周卫红	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	3	7	2.0	2.0
6	刘丽辉	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0