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摘要:
随着集成电路的迅速发展,测试过程中熔丝修调的精度受到越来越多的重视.在某些产品熔丝步距一致性欠佳的情况下,传统的查表法熔丝修调方案已经无法满足当下的精度要求,从而表现为测试过程中区域性或批次性的低良率,造成人力、物力的损失.将迭代法应用到熔丝表的计算中去成为了提升测试精度的必然趋势.采用迭代法的熔丝方案可以根据圆片当前区域的熔丝步距实时调整熔丝表,提升测试良率和测试精度.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 一种利用迭代法实现的熔丝修调方案
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 熔丝修调 迭代法 熔丝步距
年,卷(期) 2016,(12) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 23-25
页数 3页 分类号 TN407
字数 2339字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴熙文 4 6 2.0 2.0
2 顾卫民 4 5 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (0)
共引文献  (8)
参考文献  (1)
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2010(1)
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2020(1)
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研究主题发展历程
节点文献
熔丝修调
迭代法
熔丝步距
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
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