一种光信号处理芯片测试技术研究

• 作者: 张鹏辉
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 光信号处理 红外接收 测试 ASK调制信号
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 16-19
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2853字
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种光信号处理芯片的测试技术,该芯片通常用于红外接收系统中,对接收到的光信号进行处理后发送到系统的数字芯片中.测试时需要输入ASK调制信号,文中通过单片机产生测试信号以取代信号发生器,有效节约了成本.该芯片内部有放大器、带通滤波器、比较器等部分,重点介绍了功能部分和带通滤波器参数的测试,包括产生测试信号的方法,如何对单片机产生的信号进行处理,以及带通滤波器中心频率的测试和修调方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏辉		9	32	2.0	5.0