提高测速系统存储速率及可靠性的方法

• 作者: 张斌 曹勋 李致成 赵冬娥
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 存储测试 存储速率 流水线设计 坏块管理
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 152-155
• 页数: 4页
• 分类号: TP06
• 字数: 3328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2016.01.031

摘要

针对破片测速系统对数据存储速率快、可靠性高的要求，提出了基于流水线设计的数据快速存储方案和基于FPGA片内建立虚拟存储器来管理FLASH坏块列表的方法。该方法有效降低存储系统的平均响应时间，将数据流的存储速率提高了近2倍；并且有效地屏蔽FLASH的坏块，保证了破片数据存储的可靠性。测试结果表明：数据存储速率提高到2.4 Mbyte/s，为原始速率的3倍。数据存储的可靠性为100%。该方法能有效提高测速系统的存储速率和可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵冬娥	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	84	460	13.0	17.0
2	李致成	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	4	6	2.0	2.0
3	张斌	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	53	313	9.0	16.0
4	曹勋	中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室	4	7	2.0	2.0