基于固体探测器SDD的XAFS数据获取系统

• 作者: 常广才 石泓 郑黎荣
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 同步辐射 SDD XAFS LabVIEW
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 同步辐射技术及应用
• 页码范围: 7-11
• 页数: 5页
• 分类号: TL814
• 字数: 2253字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2016.hjs.39.100102

摘要

X射线吸收精细结构谱学(X-ray Absorption Fine Structure, XAFS)的发展，提出了对低浓度（痕量）元素研究的需求，高灵敏度的固体探测器纷纷被应用到XAFS技术中来。硅漂移探测器(Silicon Drift Detector, SDD)是一种高计数率、高能量分辨率、采用半导体制冷的小型荧光探测器，其商业产品渐趋成熟。北京同步辐射装置1W2B实验站装备了这种小型SDD，并开发了相应采谱软件供用户使用。经过对含Cu 100 mg·L?1浓度的CuSO4溶液的测试，结果证明这套新的采谱系统可以满足1W2B实验站XAFS实验荧光模式的需求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常广才	中国科学院高能物理研究所	8	5	2.0	2.0
2	石泓	中国科学院高能物理研究所	11	20	3.0	4.0
6	郑黎荣	中国科学院高能物理研究所	8	10	2.0	2.0