克里金插值法内插 IGS 电离层图精度分析

• 作者: 周金国 崔书珍
• 来源期刊: 全球定位系统
• 学科: 工学
• 关键词: 克里金插值法 双线性插值法 Junkins加权插值法 IGS 电离层图 垂直总电子含量
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: TP274.2
• 字数: 2456字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13442/j.gnss.1008-9268.2016.04.010

摘要

采用克里金插值法和常用插值方法内插IGS电离层图数据，获得重庆CORS网5个基准站电离层穿刺点处的V T EC值，和利用5个基准站的G PS 平滑伪距观测值解算的V T EC值进行比较，发现克里金插值法和常用插值方法的内插精度相当，故克里金插值法内插IGS电离层图的精度是可靠的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周金国		14	69	4.0	7.0
2	崔书珍		13	45	3.0	6.0