UVP ROM（紫外线可擦除只读存储器）的测试及老炼

• 作者: 王叶 龙永佳
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 工学
• 关键词: J750测试系统 UVPROM 老炼
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TH86
• 字数: 3288字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16428/j.cnki.cn11-4827/t.2016.03.004

摘要

本文以SMJ27C512－15JM为示例，详细介绍了UVPROM的测试与老炼的相关内容，并且着重对UVPROM测试程序的开发以及UVPROM老炼的应力选择做了详细的讲解，为UVPROM的测试程序开发以及老炼提供了一种实现思路。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙永佳		3	4	1.0	2.0
2	王叶		2	2	1.0	1.0