元器件二次筛选过程中的质量控制

• 作者: 王小萍
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 二次筛选 静电防护 测试 电老化
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 微电子制造与可靠性
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 3799字
• 语种: 中文

摘要

元器件二次筛选的目的是在于通过对产品实施非破坏性筛选试验,剔除具有潜在缺陷的早期失效产品,为整机的可靠性提供重要保证.为了获得良好的筛选效果,需要选择有效的筛选项目和方法.电容器和分立器件由于结构材料特殊,应用广泛,也容易在二筛过程中造成误判或由于操作不当引入新的失效或隐患,二次筛选过程中的质量控制尤为重要.选择电容器和分立器件,从筛选中最为重要的测试和电老炼两个方面着手,结合静电防护,对二筛过程的质量控制进行阐述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王小萍		2	4	1.0	2.0