斜投影-紫外光谱对染料纯度的快速分析

• 作者: 刘柳 姚志湘 粟晖 苏宗婷 赵立军 陆泓男
• 来源期刊: 印染助剂
• 学科: 工学
• 关键词: 斜投影 染料 紫外光谱 纯度 快速检测
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 检测与标准 Tests and Standards
• 页码范围: 57-60
• 页数: 4页
• 分类号: TQ610.7
• 字数: 2482字
• 语种: 中文

摘要

利用斜投影算法结合紫外-可见光谱建立了染料纯度的快速检测方法。该方法通过色谱-光谱联用获取参比染料溶液的光谱数据，运用斜投影算法分离出参比染料的有效组分和背景组分，通过测定系列质量浓度参比染液的紫外-可见光谱数据，建立分析模型。采集待测产物的紫外-可见光谱数据，运用所建立的分析模型，计算待测染液的有效组分和背景组分，测得待测染液的纯度。与高效液相色谱法的结果相比，该方法相对误差小于2.5%，可用于染料生产过程中质量的快速检测及控制，为染料的实际生产过程提供依据。