工业以太网芯片单粒子实验测试系统研制

• 作者: 夏加高 朱博 李文新 王世佳 王志龙
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 单粒子 以太网芯片 测试系统
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与故障诊断
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2016.03.012

摘要

分析了单粒子效应对以太网芯片KSZ8851--16MLLJ的内部结构的影响,为全面了解以太网芯片在单粒子实验中的状态,研制出工业以太网单粒子实验测试系统;通过测试系统的实验得出相关参数,为以太网芯片在航天器上的应用提供技术参考;根据单粒子实验的现场情况,研制基于以太网的远程数据采集、控制系统,将测试数据实时地传输到远程观测终端;测试结果表明:单粒子实验测试系统可以对以太网芯片进行全面地监测,并有效地保护该芯片的安全性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王志龙	兰州工业学院基础学科部	15	35	4.0	5.0
2	李文新		24	58	3.0	7.0
3	夏加高		9	14	3.0	3.0
4	朱博		3	14	3.0	3.0
5	王世佳		2	6	2.0	2.0