基于概率转移矩阵的全加器可靠性分析

• 作者: 吕洪君 张永强 解光军
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 量子元胞自动机(QCA) 可靠性 贝叶斯网络(BN) 概率转移矩阵(PTM) 全加器
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 493-502,526
• 分类号: O471.1|TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.13250/j.cnki.wndz.2016.08.001

摘要

基于量子元胞自动机(QCA)电路,通过贝叶斯网络(Bayesian network,BN)对7种不同的传输线建模,研究了基本传输线的输出正确率随温度的变化规律.另外,通过概率转移矩阵(PTM)研究了7种不同结构的全加器的整体可靠性和输出Si以及进位输出Ci+的平均输出错误率随错误因子的变化规律,并研究了各器件单元对全加器整体可靠性的影响.仿真结果表明,对于只有1个元胞宽度的传输线,直线型传输线有最高的可靠性,而且通过增加传输线的宽度可以提高传输线的可靠性.电路的可靠性不仅与电路结构有关,而且与电路器件单元的类型和门的数量密切相关.而且,产生进位输出Ci+1的择多门对电路的整体可靠性的影响最大,但不同的全加器的进位输出有相同的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解光军	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	626	13.0	20.0
2	张永强	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	6	10	2.0	3.0
3	吕洪君	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	28	116	6.0	9.0