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摘要:
介绍了一种在UltraFlex系统上进行多时钟域电路测试的方法,利用了UltraFlex系统自身硬件设计的特点和VBT,解决系统在多时钟电路频率比较高的情况下最小公倍数频率超过测试系统规格的问题.此方法通用,可进行不规则多时钟ASIC的测试,降低了设计和测试人员测试算法设计的难度,提高了设计和测试开发速度.
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文献信息
篇名 基于UltraFlex的多时钟域电路测试方法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 多时钟域 测试方法 Ultraflex
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目 封装、组装与测试
研究方向 页码范围 24-27
页数 4页 分类号 TN307
字数 1618字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 严华鑫 3 1 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
多时钟域
测试方法
Ultraflex
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导