35 kV干式并联电抗器家族缺陷分析及改进措施

• 作者: 孟毅 李凯宇
• 来源期刊: 湖北电力
• 学科: 工学
• 关键词: 干式并联电抗器 家族缺陷 匝线圈 操作过电压
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 电力系统及自动化
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TM472
• 字数: 3180字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19308/j.hep.2016.07.003

摘要

介绍了一起35 kV干式并联电抗器家族缺陷，分析了缺陷产生的原因。指出电抗器调匝线圈安装位置对其所处附近电场强度有重要影响，当调匝线圈安装于绕组顶层时，调匝线圈附近局部最大电场强度将远大于其安装于绕组底层时，在电抗器投切操作过电压条件下，更易发生局部放电或击穿，将导致调匝线圈起火和烧毁电抗器。同时指出了家族缺陷电抗器调匝线圈制造工艺存在的问题，介绍了该起家族缺陷的认定情况，对家族缺陷电抗器产品设计、制造及运行维护提出了改进措施。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李凯宇	国网湖北省电力公司电力科学研究院	3	1	1.0	1.0
2	孟毅	国网湖北省电力公司电力科学研究院	4	8	2.0	2.0