继电器贮存失效机理及可靠性试验方法综述

• 作者: 尚尚 王召斌 符赛
• 来源期刊: 电器与能效管理技术
• 学科: 工学
• 关键词: 继电器 贮存可靠性 失效机理 加速贮存试验
• 年，卷（期）: 2016,（16）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 13-19
• 页数: 7页
• 分类号: TM58
• 字数: 6227字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2016.16.003

摘要

概述了国内外继电器贮存可靠性研究现状,介绍了继电器长期贮存状态下的环境影响因素.在分析继电器主要贮存失效机理的基础上,介绍了目前几种主要的贮存可靠性试验方法、模型及其适用范围.最后,对该领域的研究方向进行了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尚尚	江苏科技大学电子信息学院	17	30	4.0	5.0
2	符赛	江苏科技大学电子信息学院	3	17	3.0	3.0