解读元器件降额准则

• 作者: 孙丹峰 季幼章
• 来源期刊: 电源世界
• 学科: 工学
• 关键词: 元器件 降额准则 解读
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 页码范围: 26-34
• 页数: 9页
• 分类号: TN602

摘要

本文综述了无器件降额准则与电子设备可靠性预计的关系，采用元器件应力分析法，通过死器件失效率模型，分析推导出降额要求，得出元器件基本失效率与电应力比（降额因子）和上作温度的关系，用以指导元器件的降额设计。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季幼章	中国科学院等离子体物理研究所	56	14	3.0	3.0
2	孙丹峰		40	0	0.0	0.0