开关量电路模块测试系统设计

• 作者: 袁骅
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 开关量电路模块 Visual C++编程语言 ANSI C编程语言 ARM920T 核心处理器 测试系统 COM架构
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 微机应用
• 页码范围: 60-63
• 页数: 4页
• 分类号: TP368.2
• 字数: 2585字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2016.05.015

摘要

主要阐述了开关量电路模块的自动化测试系统设计方法，通过计算机控制 S3C2410开发板和安捷伦测试设备，实现开关量电路模块的测试任务。测试系统软件可分为两部分，上位机软件采用 Visual C ＋＋编写，结构模式是 COM架构，执行多进程多任务；下位机软件采用 ANSI C 编写，执行单进程单任务。测试系统硬件部分包括 ARM920T 处理器、电压转换模块、译码模块、驱动模块和继电器矩阵。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁骅	中国电子科技集团公司第四十七研究所	2	3	1.0	1.0