X射线荧光光谱法在电气石标准物质均匀性检验中的应用

• 作者: 夏传波 成学海
• 来源期刊: 化学分析计量
• 学科: 化学
• 关键词: 电气石标准物质 均匀性检验 X射线荧光光谱法 最小取样量
• 年，卷（期）: 2016,（1）
• 所属期刊栏目: 标准物质
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: O657.3
• 字数: 2837字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-6145.2016.01.001

摘要

采用粉末压片-X射线荧光光谱法对电气石标准物质候选物的均匀性进行检验.选择Si,Al,Mg,Fe, Ca,Na等6个元素作为检验元素,样品以随机方式进行测量,根据单因素方差分析的F值和测定值的相对标准偏差(RSD)判定样品的均匀性,并计算了检测方法的误差和样品不均匀误差.结果表明,方差检验的F计算值在0.80~1.93之间,小于F临界值1.96,测定结果的相对标准偏差小于0.9%;检测方法相对标准偏差和样品不均匀度(以RSD表示)均小于0.5%,说明制备的电气石标准物质候选物具有良好的均匀性.通过公式计算,确定最小取样量为200 mg.该方法无需湿法分解样品,绿色环保,简便快速,测定结果精密度高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏传波	山东省地质科学研究院山东省金属矿产成矿地质过程与资源利用重点实验室	6	3	1.0	1.0
2	成学海	山东省地质科学研究院山东省金属矿产成矿地质过程与资源利用重点实验室	12	111	6.0	10.0