Gray码结合线移的结构光三维测量

• 作者: 田青华 白瑞林 石爱军
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 三维测量 结构光 Gray码 线移
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 光电测量与检测
• 页码范围: 26-32
• 页数: 7页
• 分类号: TP24|TP24
• 字数: 3631字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2016.11.005

摘要

针对二值条纹的边缘扩散问题,本文提出了一种改进型线移的结构光三维测量方法.该方法根据图像像素的邻域关系和逻辑关系,采用优化预处理方法得到了条纹图像的单像素边缘;根据边缘扩散对边缘定位的影响,采用一种二值图案对称线移的方法,线移条纹以Gray码最后一幅图案的条纹中心为基准向两侧对称线移,线移条纹宽度与Gray码最小周期宽度相等、方向与Gray码条纹方向平行;采用正交投射实现了对测量视野的唯一性编码.实验结果表明,该方法对平面重构的相对误差为0.07%,耗时5.41 s,满足精度和实时性的要求.将该方法应用在混合物体的表面测量实验中,结果验证该方法对不同工件具有良好的适应性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白瑞林	江南大学轻工过程先进控制教育部重点实验室	158	1207	18.0	24.0
2	石爱军	江南大学轻工过程先进控制教育部重点实验室	2	14	2.0	2.0
3	田青华	江南大学轻工过程先进控制教育部重点实验室	3	14	2.0	3.0