单模光纤宏弯损耗理论与实验研究

• 作者: 叶建雄 张华 彭星玲 茶映鹏
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 单模光纤 宏弯损耗 涂敷层 弯曲半径 波长
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 光纤光缆技术与应用
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TN818
• 字数: 2612字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13756/j.gtxyj.2016.05.013

摘要

对单模光纤宏弯损耗进行了理论分析与实验测量,选取D.Marcuse、H.Renner和L.Faustini的理论公式模拟分析了康宁公司 SMF28单模光纤的宏弯损耗,并与测量结果进行了对比。结果表明：根据 D.Marcuse 公式模拟的结果无法预测SMF28光纤宏弯损耗随弯曲半径变化而振荡的趋势,H.Renner 的公式能够预测这种趋势,但模拟结果与测量结果差别较大,最大相对误差为57.8%,L.Faustini的公式也能模拟该趋势,且模拟结果与测量结果差别较小,最大相对误差仅为19.6%,是一种较为准确的计算带涂覆层单模光纤宏弯损耗的理论公式。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张华	南昌大学江西省机器人与焊接自动化重点实验室	348	2909	25.0	35.0
2	叶建雄	南昌工程学院江西省精密驱动与控制重点实验室	44	239	9.0	13.0
3	茶映鹏	南昌工程学院江西省精密驱动与控制重点实验室	6	4	1.0	2.0
7	彭星玲	南昌工程学院江西省精密驱动与控制重点实验室	7	4	1.0	2.0