近贴X射线成像系统调制传递特性联合检测方法

• 作者: 朱泠西 李平 李野 母一宁 王贺
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 X射线 电子光学系统 调制传递函数 分辨率
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 页码范围: 489-493
• 页数: 5页
• 分类号: TB96
• 字数: 3783字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2016.05.08

摘要

利用光学调制传递函数评价原理，在建立了各个成像子系统信号传递关系的基础上，提出了一种近贴式X射线成像光学调制传递特性检测方法。从像增强器约束、射线源约束和噪声约束这3个角度对近贴式X射线成像系统光学调制传递函数进行理论定标。将近贴式X射线成像系统后端的CCD望远系统换成CCD显微系统并对不同空间分辨率的铅栅进行成像与对比度拟合。实验结果表明：时域均衡可以有效提高拟合精度。其拟合结果表明空间分辨率为10线对/mm时其调制传递函数仍有10豫，与理论定标结果基本一致。故传统近贴式X射线成像系统的望远光学镜头分辨率才是真正的成像瓶颈。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李野		68	297	9.0	13.0
2	母一宁		38	163	8.0	10.0
3	李平		31	167	8.0	11.0
4	王贺		15	112	6.0	10.0
5	朱泠西		5	7	2.0	2.0