低压成套开关设备内部故障电弧研究

• 作者: 张学军 林承志 苏金州 谢宏灵
• 来源期刊: 电工电气
• 学科: 工学
• 关键词: 低压成套开关设备 故障电弧 引弧试验 改造设计 防护措施
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 检验与测试
• 页码范围: 44-46,50
• 页数: 4页
• 分类号: TM591
• 字数: 1569字
• 语种: 中文

摘要

介绍了低压成套开关设备内部故障电弧，结合标准GB/Z18859—2002及IEC/TR61641，对低压成套开关设备进行内部故障引弧试验并对试验现象进行分析，阐述了引起内部故障电弧的原因，通过对样机进行合理优化改造设计，并采取了必要的故障电弧防护措施，使得顺利通过试验，为通过引弧试验提供了参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林承志		11	7	2.0	2.0
2	张学军		5	8	2.0	2.0
3	苏金州		10	14	2.0	3.0
7	谢宏灵		1	2	1.0	1.0