基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现

• 作者: 唐彩彬
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: CTA8280 CP测试 Multi-Site 测试效率
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 14-17,26
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2229字
• 语种: 中文

摘要

介绍了电源芯片的多Site测试设计与实现.基于CTA8280测试系统,通过对芯片CP(晶圆测试)要求进行分析,设计了8 Site测试电路外围,能够实现对晶圆进行8 Die并行测试.测试结果显示,该方案能够有效提升该电源芯片的测试效率,降低测试成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐彩彬		3	3	1.0	1.0