光腔衰荡技术测量超高反射光学元件损耗的误差分析

• 作者: 崔浩 李斌成 王亚非 韩艳玲 高椿明
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 光腔衰荡 高反射率测量 空气损耗 耦合方式
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 光电测量与检测
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TN247
• 字数: 1998字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2016.11.001

摘要

本文从测试腔长与初始腔长不一致、探测器耦合方式分析了连续光腔衰荡技术测量超高反射率元件损耗的误差.测量结果表明,在635 nm波长,常规1000级超净实验室空气损耗系数约10 ppm/m,当测试腔长比初始腔长长20 cm时,导致测试样品损耗测量结果偏大约2 ppm.另外,当采用交流(AC)耦合方式探测CRD信号时将使衰荡信号波形失真,通过实验对比直流(DC)耦合和AC耦合结果,发现采用AC耦合将使损耗测量结果偏低约2 ppm.实验结果与分析表明测量超高反射率元件损耗时应保证测试腔腔长与初始腔腔长一致,并且采用足够带宽的直流耦合探测方式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亚非	电子科技大学光电信息学院	60	319	10.0	13.0
2	崔浩	中国科学院光电技术研究所	11	33	3.0	5.0
4	李斌成	中国科学院光电技术研究所	45	325	10.0	15.0
6	高椿明	电子科技大学光电信息学院	40	167	7.0	10.0
9	韩艳玲	中国科学院光电技术研究所	11	39	3.0	6.0