目的:对1例精神发育迟滞患儿及其父母进行遗传学分析,寻找其致病原因。方法对患儿及其父母进行常规染色体 G 显带核型和荧光原位杂交技术分析,再以染色体微阵列分析技术对该患儿进行检测,并以定量 PCR 对可疑突变进行检测验证。结果染色体核型分析与荧光原位杂交结果确定患儿为47,XYY,未见其他染色体异常,其父母核型正常;染色体微阵列分析结果显示患儿 X 染色体单拷贝缺失,Y 染色体探针覆盖区呈双拷贝重复,同时发现一可疑致病基因 KYNU 的片段缺失。结论当染色体畸变综合征表型异质性时,应进一步应用精度更高的染色体微阵列进行遗传学检查,以寻找其它可能并存的导致表型变异的染色体微缺失/微重复。