低噪声放大器的自动测试开发

• 作者: 张凯虹 武乾文 苏扬
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 低噪声放大器 S参数 噪声系数
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 7-9,22
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2193字
• 语种: 中文

摘要

如何快速又精确地输出低噪声放大器的测试值并使测试值符合测试规范是研究重点.基于多个测试仪器对低噪声放大器的特性参数进行测试开发.矢量网络分析仪完成S参数的测试,噪声测试仪完成噪声系数测试,信号源与频谱仪配合完成三阶交调交叉点测试,信号源与功率计配合完成1dB增益压缩点测试.通过GPIB或TCP/IP实现仪器通信,使用计算机鳊程对整个流程实现自动控制,最后将测试结果返回计算机并显示,测试结果符合规范.实验证明,在实际应用中该方法快速精确并具有很好的通用性,可拓展到其他芯片的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张凯虹		20	27	3.0	4.0
2	武乾文		10	27	3.0	4.0
3	苏扬		1	1	1.0	1.0