基于TDS系统的超大型测试向量生成技术研究

• 作者: 刘伟 吉国凡 石志刚 金兰
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 芯片测试系统 系统架构 向量生成 优化 压缩 模块化
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 17-20,24
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 字数: 2323字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2016.05.005

摘要

超大型测试向量生成技术是数字电路芯片测试中的难点，对芯片测试效率和产品良率都有较大影响。介绍一种基于 TDS 向量生成系统的超大型测试向量生成技术。阐述了 TDS 向量生成系统的体系结构，以某超大型测试向量的生成过程为例，介绍该系统使用模块化方式生成超大型测试向量的方法，并对具体生成方案进行分析，使用裁剪、压缩等多种优化手段完成测试向量生成，保证测试向量的简洁和准确。生成后的向量可以成功载入目标测试系统，极大节省了测试系统资源。通过该方法，实现了超大型测试向量的高效生成，极大地减小了测试向量的体积，提高了工程量产测试效率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金兰		4	10	2.0	2.0
2	石志刚		2	3	1.0	1.0
3	刘伟		1	3	1.0	1.0
4	吉国凡		1	3	1.0	1.0