可编程引信高速编码信号测试仪

• 作者: 王勇贞 裴东兴 谢锐
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 引信 编码测试 并行采样 高速数据采集
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 页码范围: 26-30
• 页数: 5页
• 分类号: TJ430.6
• 语种: 中文

摘要

针对模拟环境下可编程引信高频编码信号无有效测试装置的问题，提出了基于高速数据采集和存储技术的高速编码信号测试仪。该测试仪以高速 AD转换器与 FPGA为核心，根据编码信号的特点对其进行有效的衰减和差分化，增强了测试仪的抗干扰能力减小了测试误差，采用并行双通道时间交替采样技术实现了200 MHz的高采样频率，使用 FPGA实现高速控制时序逻辑和数据分区缓存，避免了高速存储中可能产生的丢点情况。实验结果表明，高速编码信号测试仪具有完整的记录信号波形，能满足高频引信编码信号测试要求，可作为可编程引信高频编码信号测试的有效装置。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴东兴	中北大学电子测试技术重点实验室	140	826	15.0	21.0
5	谢锐	中北大学电子测试技术重点实验室	30	126	6.0	9.0
9	王勇贞	中北大学电子测试技术重点实验室	3	8	2.0	2.0