适用于1553总线协议的内建自测试实现

• 作者: 于宗光 印琴 朱晓宇 蔡洁明
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 1553总线 内建自测试 协议逻辑 编解码 RAM自测试 覆盖率
• 年，卷（期）: 2016,（5）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN492
• 字数: 2428字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2016.05.001

摘要

提出了一种适用于1553总线协议的内建自测试实现方法。该方法在传统协议处理器基础上，增加了用于存储测试向量的 ROM、自测试逻辑电路及测试寄存器，能实现1553总线协议处理器的协议逻辑自测试、编解码自测试、RAM自测试，并将测试结果存储到内建自测试状态寄存器1CH 中，用户通过访问该寄存器可以随时了解当前自测试的状态或结果。采用理论结合仿真的方法分析了协议处理器的自测试响应，仿真结果表明该协议处理器实现了内建自测试功能，内建自测试结果说明1553协议处理器的协议逻辑和 RAM的读写功能均正常。该测试方法有效提高了测试覆盖率，降低了电路测试程序开发的难度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于宗光		140	722	12.0	22.0
2	蔡洁明		8	15	3.0	3.0
3	朱晓宇		4	4	1.0	1.0
4	印琴		4	11	2.0	3.0