壳层厚度对于量子点/聚合物复合电子存储器件性能的影响

• 作者: 孙秀英 李福山 谢剑星 陈伟
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 有机/无机复合器件 电双稳态 PVK 量子点
• 年，卷（期）: 2016,（2）
• 所属期刊栏目: 电子元器件设计与应用
• 页码范围: 107-109,112
• 页数: 4页
• 分类号: TN710-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.16652/j.issn.1004-373x.2016.02.029

摘要

研究了一种含有不同壳层结构量子点的聚乙烯咔唑(PVK)/CdSe量子点复合体系电双稳器件,结果发现基于无壳层量子点的器件电荷存储能力较差,随着壳层厚度的增加,器件的电学特性由双稳态向三稳态转变.通过电容-电压(C-V)的测试结果表明,壳层的厚度对于量子点的电荷捕获能力有重要的影响,从而导致器件表现出不同的存储特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟	福州大学物理与信息工程学院	27	177	7.0	13.0
2	谢剑星	福州大学物理与信息工程学院	5	15	1.0	3.0
3	李福山	福州大学物理与信息工程学院	26	53	4.0	6.0
4	孙秀英	福州大学物理与信息工程学院	2	3	1.0	1.0