多端口T/R组件的单通道噪声系数测试方法

• 作者: 周太富 杜艳 杨顺平
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵 T/R组件 多端口 单通道噪声系数测试
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 1170-1173
• 页数: 4页
• 分类号: TN821.8
• 字数: 3453字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2016.10.019

摘要

多端口T/R组件输出端口的噪声由各个通道共同决定,要测试单独通道的噪声系数非常困难。提出了一种基于衰减器改变的多端口TR组件单通道噪声系数测试方法,消除了其他通道的噪声影响,实现了对单独通道噪声系数的测试。通过测试一个8通道T/R组件的各个通道噪声系数,与单独通道测试结果进行了对比,两种方法测试结果最大差异为0.08 dB,验证了该方法可以很准确地测量多端口网络的单通道噪声系数。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周太富		2	1	1.0	1.0
2	杨顺平		6	9	2.0	3.0
3	杜艳		3	1	1.0	1.0