基于专用芯片的电路模块嵌入式测试信息获取技术

• 作者: 刘明军 李智 邹芳宁
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: 嵌入式测试 PHM BIT 信息获取 边界扫描 测试性设计
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 151-157
• 页数: 7页
• 字数: 4743字
• 语种: 中文

摘要

本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题.文中介绍了数字、模拟、射频微波电路嵌入式测试专用芯片的设计思路及利用其进行嵌入式测试硬件与软件设计方法,最后对嵌入式测试设计进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹芳宁	中国电子科技集团公司第四十一研究所	2	1	1.0	1.0
2	刘明军	中国电子科技集团公司第四十一研究所	2	0	0.0	0.0
3	李智	中国电子科技集团公司第四十一研究所	3	0	0.0	0.0