基于介电参量研究变频电机的绝缘老化机理

• 作者: 吴广宁 彭佳 江宁 罗杨
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 变频牵引电机 绞线对 极化 老化 电容值 介质损耗
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 页码范围: 55-60
• 页数: 6页
• 分类号: TM344.6|TM201.4+4
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2016.07.011

摘要

为研究变频调速牵引电机的绝缘老化机理，采用高压方波脉冲对变频电机匝间绝缘绞线对试样进行加速老化试验，通过分析不同老化时间下绞线对的电容值和介质损耗因数(tanδ)，对绞线对在高压方波脉冲条件下的绝缘老化机理进行研究。结果表明：随着老化时间的延长，试样电容值逐渐减小，介质损耗逐渐增大。低频时绞线对的介电温度谱在125℃出现一个明显的损耗吸收峰，高频时在85℃出现一个损耗低谷。30℃时绞线对的介电频率谱在10~100 kHz频率段出现损耗峰，峰值随老化时间延长而增大，而在80℃和150℃损耗峰消失，同时tanδ逐渐减小。老化后绞线对绝缘膜的有机相被烧蚀，留下颗粒状的不连续团簇物。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	罗杨	西南交通大学电气工程学院	30	555	16.0	23.0
3	江宁		1	1	1.0	1.0
4	彭佳		2	5	1.0	2.0