基于贝叶斯概率统计的发光二极管瞬态热阻分析

• 作者: 冯伟 张建华 杨连乔 阙秀福 陈伟
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 贝叶斯 反卷积网络识别 发光二极管 瞬态热阻 时间常数谱
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 页码范围: 636-640
• 分类号: O212.8|TN312
• 语种: 中文
• DOI: 10.16183/j.cnki.jsjtu.2016.04.026

摘要

应用贝叶斯概率统计的方法来反卷积进行网络识别,分析发光二极管(LED)封装器件的瞬态热阻,有效避免了计算机中频域法解卷积出现的病态问题以及贝叶斯迭代法中迭代次数选择的问题.讨论了该方法中优化参数与时间常数谱的半波宽以及纹波的关系,选择适当的优化参数进行反卷积,再由Foster网络模型转换到Cauer网络模型,获得LED器件的瞬态热阻.同时,讨论了该方法对含噪信号的反卷积的可靠性,并分析了采用此种反卷积方法得到的LED封装器件的热阻的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯伟	上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室	50	545	14.0	21.0
5	张建华	上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室	106	709	13.0	21.0
6	陈伟	上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室	55	135	7.0	9.0
10	杨连乔	上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室	11	62	5.0	7.0
11	阙秀福	上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室	3	10	2.0	3.0