X射线荧光光谱分析磁光新晶体材料

• 作者: 卓尚军 盛成 高捷
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 磁光晶体 单晶 定量分析
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 349-352
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文
• DOI: 10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2016.0082

摘要

用XRF对磁光新晶体生长前后分别进行了定量分析,并比较了不同的制样方法和分析方法.测试结果显示:熔片法比压片法准确度高,定量分析比半定量分析准确度高;通过定量分析对新晶体材料的标定,发现新晶体是非常接近化学计量比的单晶晶体生长过程;而当晶体生长失败后,能通过定量和半定量分析得到验证,说明采用定量方法更能够准确的对磁光晶体生长过程进行表征,而半定量分析则可以快速简便的筛选出晶体生长中失败的晶体材料.最后对定量分析结果的不确定度进行了分析和评定,计算出晶体材料中各元素Tb,Ga,A1的合成绝对标准不确定为0.2％～0.3％,扩展不确定为0.4％～0.6％,置信概率95％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卓尚军	中国科学院上海硅酸盐研究所	31	343	12.0	17.0
2	盛成	中国科学院上海硅酸盐研究所	8	59	4.0	7.0
3	高捷	中国科学院上海硅酸盐研究所	5	11	2.0	3.0