基于电容量测试技术的110kV线路避雷器电阻片劣化原因分析

• 作者: 刘昊 李国伟 李雷 王俊波 许澜 邱太洪
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 关键词: 线路避雷器 泄漏电流 电容量测试 电阻片劣化 原因分析
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 137-141
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16188/j.isa.1003-8337.2016.03.025

摘要

通过对某线110 kV有缺陷的线路避雷器进行绝缘电阻、泄漏电流及局放测试,并解体对其中泄漏电流不合格的电阻片进行干燥处理,干燥前后发现不合格的电阻片泄漏电流变化不大,为找出问题所在,提出通过测量避雷器电阻片电容量与额定值相比较的方法,对不合格的电阻片进行电容量测量,测试结果显示:不合格的电阻片电容量均超过其额定值的20％,表明这些电阻片已经劣化,找出了造成该线路避雷器炸裂的原因并非电阻片受潮,而是电阻片本身劣化所致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王俊波		49	138	7.0	10.0
2	李国伟		39	195	8.0	13.0
3	许澜		3	12	1.0	3.0
4	邱太洪		30	75	5.0	7.0
5	李雷		10	18	2.0	4.0
6	刘昊		7	10	2.0	3.0