一种载波泄漏快速抑制方法

• 作者: 吴广德 陈瑾
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 载波泄漏 直流偏置 二元寻优 抛物面方程
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 148-150
• 页数: 3页
• 分类号: TN83
• 字数: 2552字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16180/j.cnki.issn1007-7820.2016.03.038

摘要

为获取更加纯净的频谱,抑制载波泄露和无用边带泄露.提出了一种快速抑制发射机载波泄漏的方法.从理论上分析了载波泄漏的原因及抑制的原理,进而提出利用抛物面二元寻优方法快速抑制载波泄漏.该方法较传统方法更能有效地控制发射机载波泄漏,大幅提高了抑制效率,消除了测试过程中可能出现的因载波泄漏而引起的各种不良影响,并使校准所需步骤、时间固定化,提高了测试效率,进而节约了测试成本,实验证明了该方法的正确性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈瑾	西安电子科技大学天线与微波技术重点实验室	6	42	3.0	6.0
2	吴广德		4	18	2.0	4.0