基于加速老化试验的IGBT寿命预测模型研究

• 作者: 张亚玲 李志刚
• 来源期刊: 电气传动
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘栅双极型晶体管 温度循环 寿命预测模型
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 所属期刊栏目: *其 他*
• 页码范围: 72-75
• 页数: 4页
• 分类号: TM322
• 字数: 3846字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19457/j.1001-2095.20161016

摘要

绝缘栅双极型晶体管（insulated gate bipolar transistor，IGBT）在工作过程中经常要承受过热和较大的温度波动，当热损伤达到一定程度时，模块极有可能出现失效，这会给电力系统造成巨大的危害。如果能根据寿命预测模型提前预估模块的寿命，便可以在模块即将失效之前进行更换，从而避免模块突然失效带来的损失。因此，考虑在检测模块壳温的条件下进行IGBT的温度循环试验，研究工况中易获得的壳温与IGBT寿命的关系模型。在已有寿命模型的基础上，提出改进的寿命预测模型，经试验数据验证准确度更高。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志刚	河北工业大学电气工程学院	150	975	15.0	22.0
2	张亚玲	河北工业大学电气工程学院	5	28	4.0	5.0