硫化时间对固态硫化铜锌锡硫薄膜性能的影响

• 作者: 曹中明 杨元政 许佳雄 谢致薇
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 磁控溅射 铜锌锡硫薄膜 固态硫化 硫化时间
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 材料与工艺
• 页码范围: 63-67
• 页数: 5页
• 分类号: TB332|TM615
• 语种: 中文
• DOI: 10.11868/j.issn.1001-4381.2016.09.010

摘要

采用固态硫化法硫化铜锡锌(CZT)预制膜制备铜锌锡硫(Cu2 ZnSnS4,CZTS)薄膜,研究硫化时间对CZTS薄膜性能的影响.利用X射线衍射仪(XRD)和紫外拉曼光谱仪(Raman)分析薄膜的物相结构,通过X射线能谱仪(EDS)分析薄膜的化学组分,采用扫描电镜(SEM)观察薄膜的表面形貌,利用UV-Vis研究薄膜的光学特性.结果表明:随着硫化时间延长,Cu含量增加,Zn含量明显减少.硫化40min以上制备的薄膜出现导致禁带宽度减小的杂相SnS,Sn2S3和Cu2 SnS3.当硫化时间为20min时,样品为单相的CZTS薄膜,薄膜表面均匀平整,化学组分贫Cu富Sn,吸收系数达104 cm-1,禁带宽度Eg约为1.56eV.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢致薇	广东工业大学材料与能源学院	85	436	12.0	15.0
2	杨元政	广东工业大学材料与能源学院	123	648	13.0	20.0
3	许佳雄	广东工业大学材料与能源学院	10	14	2.0	3.0
4	曹中明	广东工业大学材料与能源学院	2	7	2.0	2.0