GIS/GIL中金属微粒污染问题研究进展

• 作者: 刘思华 李伯涛 李庆民 李成榕 王健 陈超
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: GIS/GIL 金属微粒 气隙击穿 沿面闪络 微粒抑制措施
• 年，卷（期）: 2016,（3）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘
• 页码范围: 849-860
• 页数: 12页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.20160310001

摘要

以SF6或SF6/N2混合气体为绝缘介质的GIS/GIL具有大容量、高可靠性和环境友好等特点,特别是在特高压输电及离岸大规模风电输送领域具有巨大应用前景,而GIS/GIL中存在的金属微粒污染问题是提高设备绝缘强度研究中的关键技术难题.首先介绍了GIS/GIL中金属微粒的带电及受力机理研究;然后分析归纳了交流、直流、冲击等不同电压类型与微粒的运动特性和设备绝缘劣化之间的关系和规律;并进一步,对比分析了GIS/GIL中由金属微粒污染引起的典型绝缘故障,即运动微粒引起的气隙击穿和附着绝缘子表面的微粒引起的沿面闪络;此外总结概述了目前主要的微粒抑制措施及其作用机理;最后指出现有GIS/GIL中微粒污染问题研究存在的不足和可能的解决途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成榕		161	3340	34.0	49.0
2	陈超		23	245	9.0	15.0
3	王健		27	249	7.0	15.0
4	李庆民		49	307	11.0	17.0
5	李伯涛		5	76	3.0	5.0
6	刘思华		6	32	1.0	5.0