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摘要:
随着科学技术的发展,各个研究单位对编码器的精度要求越来越高,因此,在编码器研制生产过程中,需要对其误差进行检测,虽然现有检测装置能够完成编码器的误差检测,但都存在着不足之处.文章在参考大量文献的基础上,首先介绍了光电编码器的原理,其次介绍了国内外编码器检测装置的结构及原理,并分析其优缺点,最后对其发展方向进行了展望.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 光电编码器检测装置研究现状与展望
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 光电编码器 误差 检测装置
年,卷(期) 2016,(6) 所属期刊栏目 动态综述
研究方向 页码范围 763-769
页数 分类号 TP212
字数 语种 中文
DOI 10.16818/j.issn1001-5868.2016.06.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 万秋华 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 86 882 17.0 23.0
2 孙莹 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 32 293 9.0 16.0
3 王树洁 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 22 361 9.0 18.0
4 杨守旺 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 17 173 9.0 13.0
5 刘小树 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 3 20 3.0 3.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (122)
共引文献  (259)
参考文献  (17)
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2019(7)
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研究主题发展历程
节点文献
光电编码器
误差
检测装置
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
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