霉菌对Ge、ZnS和ZnSe膜层的影响

• 作者: 刘剑 字正华 李大庆 杨玉萍 江学军 赵远荣 钟辉
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: Ge ZnS ZnSe 增透膜 碳膜 霉菌
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 红外光学材料
• 页码范围: 1078-1081
• 页数: 4页
• 分类号: TN213
• 字数: 2334字
• 语种: 中文

摘要

采取自然环境试验和实验室霉菌试验相结合的方法，研究霉菌对Ge、ZnS和ZnSe镀增透膜和碳膜的影响。通过显微镜和扫描电镜对霉菌试验结果进行观察和检测。试验结果表明：未镀膜的Ge、ZnS 和 ZnSe 材料抗霉能力较强；增透膜和碳膜抗霉能力较弱，容易长霉，其主要长霉原因是增透膜和碳膜为霉菌生长提供了营养成分。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨玉萍		5	2	1.0	1.0
2	字正华		7	16	2.0	3.0
3	刘剑		5	2	1.0	1.0
4	赵远荣		4	2	1.0	1.0
5	江学军	陆军重庆军事代表局驻昆明地区军事代表室	1	2	1.0	1.0