基于缺陷模式匹配的静态源码分析技术研究

• 作者: 吴伟明 孔军 谷勇浩
• 来源期刊: 软件
• 学科: 工学
• 关键词: 软件测试 静态代码 缺陷模式 检测器
• 年，卷（期）: 2016,（11）
• 所属期刊栏目: 设计研究与应用
• 页码范围: 146-149
• 页数: 4页
• 分类号: TP314
• 字数: 3211字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6970.2016.11.032

摘要

随着信息技术的飞速发展，应用软件的规模不断扩大，越来越多的软件安全问题频频出现，因此如何保证和提高软件质量日益成为一个备受关注的问题。研究表明，在测试阶段修正错误所付出的成本比代码编写阶段多出10倍，因此以静态分析的方式来检测软件质量能大大降低投入成本。基于缺陷模式的软件测试是近些年发展起来的一种程序源代码静态分析技术，主要用于自动或者半自动的软件缺陷检测及预防，此类缺陷检测工具由于效率高和使用简单等特点在高可信软件测试中得到了广泛应用。所谓的缺陷模式，是指程序中经常发生的错误或缺陷所呈现出的特定规律。缺陷模式通常由具有领域程序设计经验的人或者测试人员总结出来。本文通过利用开源软件为实验工具，运用静态分析的相关理论，自定义检测器对软件项目做测试得出了一些存在的问题。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴伟明	北京邮电大学计算机学院	20	141	6.0	11.0
2	谷勇浩	北京邮电大学计算机学院	13	37	4.0	5.0
3	孔军	北京邮电大学计算机学院	1	5	1.0	1.0