类 Be 离子（Z＝8－54）内壳层激发态1 s2 s22 p退激发过程的理论研究

• 作者: 刘晓斌 桑萃萃 王向丽
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 内壳层激发态 辐射跃迁 Auger跃迁 类Be离子
• 年，卷（期）: 2016,（4）
• 所属期刊栏目: ?原子、分子结构与光谱?
• 页码范围: 608-614
• 页数: 7页
• 分类号: O562.1
• 字数: 4094字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2016.08.007

摘要

采用基于全相对论框架的多组态Dirac－Fock方法，系统研究了类Be离子（ Z＝8－54）内壳层激发态1s2s22p的能量、辐射退激发和Auger退激发过程。详细讨论了电子关联效应对相关结构和退激发过程的影响。结果表明，来自于n＝2和3壳层的电子关联效应最重要。另外，随着Z的增大，辐射退激发几率逐渐而平滑的增大，而Auger退激发几率的变化则不显著。本文计算结果与其它理论计算结果符合很好。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	桑萃萃	青海师范大学物理系	13	5	1.0	2.0
2	刘晓斌	天水师范学院物理系	23	18	2.0	3.0
3	王向丽	西北民族大学电气工程学院电子材料国家民委重点实验室	5	2	1.0	1.0