基于STM32的载流X荧光品位分析仪硬件平台设计

• 作者: 赵宇 赵建军 赵海利
• 来源期刊: 自动化与仪器仪表
• 学科: 工学
• 关键词: STM32 载流X荧光品位分析仪 可靠性高 平台复用
• 年，卷（期）: 2016,（9）
• 所属期刊栏目: 过程自动化
• 页码范围: 26-27,30
• 页数: 3页
• 分类号: TP332
• 语种: 中文
• DOI: 10.14016/j.cnki.1001-9227.2016.09.026

摘要

载流X荧光品位分析仪是由北京矿冶研究总院自主研发的在线矿浆品位分析仪器,经过10年的发展已经形成精度高、可靠性高的系列产品,在选矿现场起到了不可替代的作用.其控制系统采用STM32微控制器实现,其具有可靠性高、可扩展、可裁剪的优点,采用模块化设计使得其很方便应用到其他的选矿仪表中,实现了硬件平台的复用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵建军		25	77	5.0	6.0
7	赵海利		11	30	3.0	4.0
11	赵宇		10	18	3.0	3.0