考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型

• 作者: 易茂祥 梁华国 蒋翠云 闫爱斌 黄正峰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 锁存窗屏蔽 脉冲叠加 多时钟周期 扇出重汇聚
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 3011-3019
• 页数: 9页
• 分类号: TP391.72|TN432
• 字数: 7277字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2016.12.028

摘要

集成电路工艺水平的提升，使得由单粒子瞬态脉冲造成的芯片失效越发不容忽视．为了准确计算单粒子瞬态脉冲对锁存器造成的失效率，提出一种考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型．使用提出的考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找门节点到达锁存器的敏化路径，并记录路径延迟；在扇出重汇聚路径上，使用提出的脉冲叠加计算方法对脉冲进行叠加；对传播到达锁存器的脉冲使用提出的锁存窗屏蔽模型进行失效率的计算．文中的锁存窗屏蔽模型可以准确计算扇出重汇聚导致的脉冲叠加，并对多时钟周期情形具有很好的适用性．针对ISCAS’85基准电路的软错误率评估结果表明，与不考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的方法相比，文中方法使用不到2倍的时间开销，平均提高7．5％的软错误率评估准确度．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	蒋翠云	合肥工业大学数学学院	21	373	9.0	19.0
4	易茂祥	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	109	559	12.0	19.0
5	闫爱斌	合肥工业大学计算机与信息学院	7	4	1.0	1.0