高g冲击载荷下多层陶瓷电容结构失效分析

• 作者: 康兴国 张旭辉 徐红玉 梁斌 虞跨海
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 多层陶瓷电容 弹性力学 有限元 失效分析 失效机理 应力集中
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TM53|TM28
• 字数: 2949字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14106/j.cnki.1001-2028.2016.06.005

摘要

基于弹性力学和有限元方法对冲击载荷作用下多层陶瓷电容力学响应开展了理论和数值仿真计算.结果表明:由于自身结构特点,冲击载荷下电容易出现应力集中,基板变形对电容失效影响较大,分析了各工况下电容内部易失效位置及失效机理,其主要破坏特征为焊锡开裂造成脱焊.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐红玉	河南科技大学工程力学系	72	327	9.0	14.0
2	梁斌	河南科技大学工程力学系	115	461	10.0	15.0
3	虞跨海	河南科技大学工程力学系	26	124	7.0	9.0
4	张旭辉	河南科技大学工程力学系	3	7	2.0	2.0
5	康兴国		12	65	4.0	7.0