SKP和LEIS技术在电化学腐蚀研究中的应用进展

• 作者: 沈溃领 王文和 王昌酉
• 来源期刊: 材料保护
• 学科: 化学
• 关键词: SKP LEIS 缝隙腐蚀 点蚀 孔蚀 微生物腐蚀
• 年，卷（期）: 2016,（12）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 64-68
• 分类号: O657.1
• 语种: 中文

摘要

介绍了扫描开尔文探针(SKP)和局部电化学阻抗谱(LEIS)两种先进的微区电化学测量技术的原理和优点以及目前主要的应用领域,综述了两种技术在缝隙腐蚀、点蚀和孔蚀、微生物菌腐蚀以及其他类型腐蚀研究中的应用进展.结果表明,两种测量技术对宏观的电化学测量技术有着很好的补充和完善作用.展望了两种技术的未来发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王文和	重庆科技学院安全工程学院	65	216	7.0	11.0
5	王昌酉	重庆科技学院法政与经贸学院	4	6	1.0	2.0
6	沈溃领	重庆科技学院安全工程学院	3	14	2.0	3.0