融合IEEE1149.X标准的混合信号测试系统设计

• 作者: 刘传波 廖军 张玲莉
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 混合信号检测 边界扫描 IEEE1149.X 组合测试
• 年，卷（期）: 2016,（6）
• 所属期刊栏目: 电子技术设计与应用
• 页码范围: 86-89
• 页数: 4页
• 分类号: TP206.3
• 字数: 2865字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2016.06.027

摘要

集成电路的高复杂度和装配的高密度,使得只用单一的IEEE 1149标准来进行电路的自测试已经不能满足需要,在研究IEEE1149.1、.4和.5三种标准的差异性和组合应用准则的基础上,设计了融合三种标准进行混合信号多级扫描的方法.并通过实验平台的搭建与测试,验证了该方法的可行性,为数模混合量的检测以及多模块间的组合测试提供了实用参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘传波	武汉理工大学机电工程学院	34	112	6.0	9.0
2	廖军	武汉理工大学机电工程学院	4	14	1.0	3.0
3	张玲莉	武汉理工大学机电工程学院	5	25	2.0	5.0