应用于PTS装置的多通道X射线二极管阵列谱仪

• 作者: 但加坤 张思群 李晶 王昆仑 赵屹东 郑雷 黄显宾
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: Z箍缩 软X射线 X射线二极管 PTS装置 脉冲功率
• 年，卷（期）: 2016,（8）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 149-154
• 页数: 6页
• 分类号: TN151.1
• 字数: 2697字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201628.150913

摘要

介绍了用于PTS(初级实验平台)装置上Z箍缩内爆物理实验诊断的多通道X射线二极管(XRD)阵列谱仪原理、性能及主要参数,给出了根据实验结果回推光源辐射能谱的解谱算法.在PTS装置上开展的首轮物理实验中,使用多通道XRD阵列谱仪对Z箍缩产生的等离子体源辐射的软X射线能谱、功率、能量进行测量,给出了测量结果及分析,并与其他参试设备测量结果进行了比较.